共聚焦显微镜由显微镜光学系统、激光光源、扫描器及检测及处理系统4部分组成,采用相干性较好的激光作为光源,在传统光学显微镜基础上采用共轭聚焦原理和装置,并利用计算机对图象进行处理的一套观察、分析和输出系统。其核心优势在于通过 “空间针孔” 过滤杂光,显著提升分辨率与图像对比度,下文光子湾科技将结合光学仿真软件VirtualLab Fusion中的建模案例,解析共聚焦显微镜的工作原理与横向位移检测逻辑。
一、共聚焦显微镜的光学系统与部件
建模中搭建的共聚焦显微镜系统,核心部件与参数如下:
输入场:波长 532nm 的 x 方向线偏振平面波,光束直径 7mm;
关键光学元件:分束镜(光路转向)、物镜(焦距 f=50mm,数值孔径 NA=0.25,负责聚焦光线)、套管透镜(焦距 f=14mm,传导成像光)、空间针孔(直径 2μm,过滤杂光核心)、功率探测器(检测最终光信号);
测试对象:金属光栅(占空比 50%,周期 5μm,含交替 “脊” 与 “凹槽” 结构,用于模拟物体位移)。
二、共聚焦显微镜的工作原理
共聚焦显微镜的核心原理的是:焦平面外光的精准过滤,只保留焦平面有效光。
焦点区域的光状态探测场
输入平面波经分束镜导向物镜,被聚焦到待测金属光栅的焦平面上;
光线从光栅反射后,会携带焦平面内(如金属脊)和焦平面外(如凹槽,反射光失焦)的信号;
反射光经物镜、分束镜传导至空间针孔时,焦平面外的散射 / 反射光会被针孔阻挡,仅焦平面内的有效光(如金属脊的强反射光)能通过;
最后,有效光经套管透镜汇聚到功率探测器,形成高对比度、高分辨率的成像信号。
三、共聚焦显微镜的横向位移检测逻辑
通过金属光栅的不同横向偏移(无偏移、1.25μm 偏移、2.5μm 偏移),可观察到位移与功率的直接关联:
测试对象的直接反射
测试对象的像
功率测量与测试对象的横向偏移
反射规律:光线照射金属 “脊” 时反射最强,照射 “凹槽” 时因反射光失焦,光信号显著减弱;
成像特点:套管透镜后的共轭像平面中,仅 ±1 级衍射光参与成像,且位移会改变 “脊 / 凹槽” 与光路的对应关系 —— 如偏移 1.25μm、2.5μm 时,凹槽对应的像平面区域功率明显降低;
位移 - 功率联动:实验中将光栅横向移动 10μm,功率探测器可清晰捕捉到功率变化:目标的横向偏移直接转化为探测器接收的功率差异,证明共聚焦显微镜能灵敏检测物体微小横向位移。
综上,通过 VirtualLab Fusion 搭建模型,清晰阐明了共聚焦显微镜工作原理:光学系统部件协同作用,以偏振平面波为输入,依托物镜聚焦、空间针孔滤光、功率探测器接收,实现焦平面外杂光的精准剔除。同时,以金属光栅为测试对象的实验,直观验证了横向位移与探测功率的联动关系:从无偏移时的强反射功率,到 1.25μm、2.5μm 偏移后的功率下降,再到 10μm 移动中的信号变化,均证明共聚焦显微镜既能凭借焦平面光筛选提升成像质量,又能灵敏捕捉物体微小横向位移。
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