硬件学习笔记--70 电解电容漏电流值

电解电容的漏电流（Leakage Current）通常取决于其容量、额定电压、材料和制造工艺。以下是常见电解电容漏电流的一般范围和计算方法：

1. 典型漏电流范围

• 铝电解电容：

  • 漏电流通常为 0.01CV 至 0.03CV（单位：μA），其中：

    • C 是标称容量（μF），

    • V 是额定电压（V）。

  • 示例：一个100μF/25V的电容，漏电流约为 0.01×100×25=25μA0.01×100×25=25μA 至 0.03×100×25=75μA0.03×100×25=75μA。

  • 实际值：多数厂商的规格书会标注更精确的公式或最大值（如 Ileak≤0.02CV+20μAIleak​≤0.02CV+20μA）。

• 钽电解电容：

  • 漏电流通常更低，约为 0.01CV 或更小（单位：μA）。

  • 示例：47μF/16V的钽电容，漏电流可能小于 0.01×47×16≈7.5μA0.01×47×16≈7.5μA。

2. 影响因素

• 电压应力：漏电流随施加电压升高而增大（尤其在接近额定电压时）。

• 温度：高温下漏电流显著增加（每升高10°C，漏电流可能翻倍）。

• 老化：长期未使用的电解电容通电后漏电流较高，需经过“老化”（重新形成氧化膜）后降低。

3. 规格书参考

• 厂商通常会在规格书中明确漏电流的 最大值（如“Ileak≤0.01CV+3μAIleak​≤0.01CV+3μA”）。

• 测试条件：漏电流通常在额定电压、25°C下测量，并在充电后2~5分钟内稳定。

4. 实际应用注意

• 电路设计：在高阻抗或低功耗电路中，漏电流可能导致误差（如信号耦合或定时电路）。

• 失效风险：漏电流异常增大可能是电容老化或损坏的标志（如电解质干涸）。

5. 规格书参考