20、纳米粒子的位置测量与成像技术解析

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于 2025-06-30 13:20:51 发布

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分类专栏：多维成像技术的前沿探索文章标签：纳米粒子位置测量光学捕获

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纳米粒子的位置测量与成像技术解析

1. 光学捕获纳米粒子的激光强度影响

在对纳米粒子进行光学捕获时，激光强度起着关键作用。以60nm金纳米粒子为例，当激光强度 (I < 20 MW/cm^2) 时，纳米粒子的运动受布朗运动影响较大；当 (I = 5.6 MW/cm^2) 时，纳米粒子有时会离开捕获区域，随后又返回；而当 (I < 5.6 MW/cm^2) 时，纳米粒子会长时间离开捕获区域且不再返回。我们将在该激光聚焦条件下，能长时间捕获粒子的最小激光强度定义为阈值强度。当 (I > 30 MW/cm^2) 时，金纳米粒子几乎完全静止，横向和轴向测量变化的标准差分别为6.3nm和7.1nm。

激光强度范围	纳米粒子运动状态
(I < 5.6 MW/cm^2)	长时间离开捕获区域且不返回
(I = 5.6 MW/cm^2)	有时离开捕获区域，随后返回
(5.6 MW/cm^2 < I < 20 MW/cm^2)	运动受布朗运动影响较大
(I > 30 MW/cm^2)	几乎完全静止

2. 暮光场技术用于纳米粒子全息位置检测 </

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