半导体数据分析（二）：徒手玩转STDF格式文件 -- 码农切入半导体系列

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于 2024-12-17 22:29:15 发布 · 2.9k 阅读

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一、概述

在上一篇文章中，我们一起学习了STDF格式的文件，知道了这是半导体测试数据的标准格式文件。也解释了为什么码农掌握了STDF文件之后，好比掌握了切入半导体行业的金钥匙。

从今天开始，我们一起来一步步地学习如何解构、熟悉、掌握、玩弄这个STDF。并最终尝试写一个完整的 STDF解析器，最后发布到网上成为一个公共库。

了解这个文件，首先需要了解STDF的标准。我们知道，了解标准是一件很繁琐的事情，所以我们现在要做的是一步步开始，从创建和读取最简单的stdf格式的文件作为起始点，逐步探索STDF的核心。

实际上PYTHON 已经有两种第三方库来读取STDF文件，但经过我的测试，并不是很理想，多数时候会在读取STDF的时候报错，或者漏掉一些关键信息。所以，我们今天徒手来盘弄这个stdf文件。

二、文件结构

一个基本的STDF文件，结构是这样的：

STDF File
├── Record (repeated for each record in the file)
│   ├── Header (6 bytes)
│   │   ├── REC_LEN (2 bytes) : Record Length (total length of the record including header)
│   │   ├── REC_TYP (1 byte)  : Record Type (identifies the kind of record)
│   │   └── REC_SUB (1 byte)  : Record Sub-Type (further specifies the record type)
│   └── Body (variable length, depending on REC_TYP and REC_SUB)
│       ├── Field (repeated for each field in the record)
│       │   ├── Field Name    : Descriptive name for the field
│       │   ├── Data Type     : Specifies the data type of the field
│       │   └── Value         : The actual data stored in the field
│       └── [Additional Fields as specified by the record type]
└── [More Records as needed]

上面的内容可以看出，标准STDF包含了头文件和记录文件两个主要内容。

其中

REC TYPE 是主记录的标识。
REC_SUB 是主记录下的子标识。

以下是STDF的全部记录类型

今天我们要创建一个最简单的带有头文件的STDF格式文件，就需要理解STDF（Standard Test Data Format）的基本结构。STDF是一种二进制格式，用于半导体测试设备之间交换测试数据。每个STDF记录由一个固定长度的头和可变长度的数据字段组成。

根据标准，我们知道每个STDF记录都包含一个头部，该头部至少包括三个字段：记录长度、记录类型（REC_TYP）、记录子类型（REC_SUB）。我们将创建一个最小的STDF文件，它将仅包含File Attributes Record (FAR) 和 Master Information Record (MIR)，因为它们是每个STDF文件必需的。

它的格式如下：

STDF File
├── FAR (File Attributes Record)
│   ├── Header (6 bytes)
│   │   ├── REC_LEN (2 bytes) : Length of FAR record including header
│   │   ├── REC_TYP (1 byte)  : 0 (for FAR)
│   │   └── REC_SUB (1 byte)  : 10 (for FAR)
│   └── Body (variable length)
│       ├── Version           : STDF version number (1 byte)
│       └── CPU_Type          : Type of CPU used to generate the file (1 byte)
├── MIR (Master Information Record)
│   ├── Header (6 bytes)
│   │   ├── REC_LEN (2 bytes) : Length of MIR record including header
│   │   ├── REC_TYP (1 byte)  : 1 (for MIR)
│   │   └── REC_SUB (1 byte)  : 10 (for MIR)
│   └── Body (variable length)
│       ├── Head Count        : Number of test heads (2 bytes)
│       ├── Site Count        : Number of test sites per head (2 bytes)
│       ├── Date/Time First Part Tested (4 bytes each)
│       ├── Date/Time Last Part Tested (4 bytes each)
│       ├── Test Operator     : ID of the operator who ran the tests (variable length string)
│       ├── Test Station ID   : ID of the station where tests were performed (variable length string)
│       ├── Lot ID            : Identifier for the lot being tested (variable length string)
│       ├── Wafer ID          :