《Fundamentals of Electromigration-Aware IntegratedCircuit Design》笔记
1、对高可靠性的需求是不断缩小尺寸的主要驱动力之一,利用晶圆中存在缺陷的特定概率。为了正常工作,IC必须位于晶圆上没有缺陷的部分。较小的芯片和较小的晶体管尺寸增加了它们位于缺陷之间的概率,从而提高了产量。除了减少单个晶体管的空间需求所带来的好处之外,追求更小结构的背后还有其他驱动因素。小型场效应晶体管(FET)具有较低的栅极电容,这是晶体管工作期间对其充电的有利特性。因此,由于所需的电荷减少,场效应晶体管可以在相同电流下以更高的频率充电。2、要降低功率耗散,特别是克服散热问题,需要做大量的工作。要做到这一点
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2025-03-31 20:37:27 ·
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