运放-电阻式电流采样-高压侧和低压侧电流采样方案

文章详细介绍了电阻式电流采样的两种方式,包括高侧和低侧采样,讨论了电路设计中的关键因素如电阻选择、放大器要求以及共模电压影响。同时,针对PCB设计提供了改进方案,以提高采样精度和稳定性。

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1、主要内容包括:

①:两种电阻式电流采样方式介绍

一、电阻式电流采样方式介绍

1. 基本电流采样方案

常见的电阻式电流采样方案如下图1和图2。

※ 图1将一个采样电阻Rs串联在电流通路中,采样电阻靠近电源VCC侧,电流I流过采样电阻会产生压差,用电流采样放大器放大放大A倍后得到一个电压Vout,Vout=IRsA,MCU的ADC读取这个电压Vout,用Vout就可以反算出流过通路的电流大小。

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图1 高侧采样

※ 图2也是将一个采样电阻Rs串联在电流通路中,但采样电阻靠近电源GND侧,由于电阻Rs一端接地此种方式不需要读电阻两端的电压,只需要读电阻Rs上端电压,因此只需要普通的放大器用同向放大电路就可以完成。Vout=IRsR2/R4,单片机读取Vout电压即可反算出通过负载的电流大小。

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图2 低侧采样

2. 电流采样电阻(分流电阻)

采样电阻阻值从毫欧级到欧姆级都有,需要根据所采集电流大小和运算放大器放大倍数来选择,尽量在单片机电压允许范围内选择更大的阻值,因为越小的电阻受PCB布局或者外来信号干扰的可能性越大。

举例:单片机读取电压范围为0~3V,我们采集的电流为1A,我们有以下选择方案:

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如表格所示,3Ω、300mΩ、30mΩ电阻均可满足要求,但是选哪个更好呢?我们看功率栏,3Ω电阻在1A电流下消耗功率高达3W,一般的2512封装的电阻只有1W,而更大封装的电阻虽然能满足要求,但体积巨大,因此3Ω显然不适合,相比来说0.3W功率的300mΩ的更合适。

那30mΩ的为何不选呢?电阻过小,电阻两端焊盘的焊锡量都会影响最终的采集精度,因此在满足封装及热设计(参考:IC与器件的热设计)的情况下尽量选择更高阻值的电流采样电阻。此外,选择更小的阻值意味着需要更大放大倍数的运算放大器,而运算放大器存在输入失调电压,放大倍数过大会将此失调电压也放大,影响最终结果,参考:运放-4. 输入失调电压。

3. 两种方式的优缺点

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两种方式主要不同是共模输入电压不同(参考:运放-2. 基础知识),高侧方式共模输入电压接近电源电压,因此其非常高,假设负载供电是12V,而运算放大器是3.3V供电,那就需要专门的共模输入电压高于12V的电流感应放大器。而低侧方案其共模输入电压接近GND,所以其共模输入电压较低,选择普通运放即可。

但是低侧方案也有自己的缺点,它可能导致接地环路问题,如下图3所示,被监测负载的负端在GND的基础上叠加了Rs的压降,而其他负载的负端接GND,两者不共地,同时,当被监测负载在PCB上直接与GND短路时,电流不经过通路1和2而是直接通过电流通路3,此时系统监测不到负载短路情况。而高侧方式不存在这种问题,因此需要权衡后选择方案。
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图3 低侧采样电流路径

----总结----

总结:本文简单介绍电阻式采样的两种方式并从理论上分析了两者的优缺点。

2、主要内容包括:

①:电阻式电流采样电路设计

②:电阻式电流采样PCB设计

一、电阻式电流采样电路设计

1. 稳定的电流采样电路设计

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图1 高侧采样

图1所示的高侧采样方案是基本电路(点击阅读:电阻式电流采样不准?(上篇)),以此电路为基准,实际要保证采样精准,还要添加其他的器件,下图2是扩展后的电路,加入了两个电阻和三颗电容,两个接地电容C1和C2是将两根线路的共模干扰滤除,两个电阻R1和R2以及中间电容CF构成滤波器进行滤波,而由于R1与R2流过电流会造成误差,因此这两颗电阻尽量小于10Ω。

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图2 推荐稳定高侧电流采样电路

2. 常见器件的电流采样电路

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图3 TI的电池管理芯片:BQ24610RGER
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图4 TI的电流感应放大器INA219AIDR

二、电阻式电流采样PCB设计

1. 一般的PCB走线

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图5 不推荐的布线方式

如图5是一般的布线方式,如图中蓝色线示意的路径,此种方式的电流感应放大器IC(点击阅读:运放-2. 基础知识)的正负输入端等效电压包括采样电阻Rs的压降和两个焊盘上的压降,且焊盘锡量会影响焊盘等效电阻,因此此种方式在大电流高精度时误差较大,甚至能导致百分之五以上的误差。

2. 推荐的PCB布线方式

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图6 推荐的布线方式

图6为推荐的布线方式,此种方式电流感应放大器IC的正负输入端等效电压只包含采样电阻Rs的压降,外部锡量和焊盘大小不影响精度。

----总结----

总结:本文给出了参考的稳定电流采样电路,并且给出一种推荐的PCB布线方法来保证采样精度与稳定性。
参考原文:《电阻式电流采样不准?(上篇)》
参考原文:《电阻式电流采样不准?(下篇)》

<think>嗯,用户的问题是关于低压电流采样PCB设计的关键注意事项最佳实践。用户可能正在设计一个电源系统或电机控制系统,需要精确测量电流。这类应用对PCB布局非常敏感,因为噪声会直接影响采样精度。 从用户引用的资料来看,ta已经研究过开关电源PCB设计的相关要点,特别是电流回路布局、去耦电容抗干扰措施。用户真正关心的应该是如何将这些通用原则具体应用到电流采样电路上。 低压采样有几个特殊点需要考虑:采样电阻位置必须靠近GND连接点,否则接地点位差异会导致测量误差;采样走线要避免被大电流回路干扰;模拟小信号需要与数字部分隔离。 用户可能还隐含了一个需求:如何平衡成本性能。因为电流采样电路如果设计不好,后期加屏蔽或换高精度元件都会增加成本。所以最佳实践里需要包含性价比方案,比如优先保证关键路径的设计,次要部分可以适当简化。 上次回答过开关电源PCB布局,这次要更聚焦电流采样部分。重点应该在: 1. 采样元件的物理布局走线拓扑 2. 噪声隔离的具体实现方法 3. 验证设计的手段(比如如何用万用表测试接地质量) 用户引用的[^2]提到“减小环路面积”“去耦电容靠近VCC”,这些原则在电流采样中同样关键,但需要更细化。例如采样电阻自身的寄生电感就会形成小环路,这点要特别说明。 另外注意到用户引用[^4]的高压隔离要求,虽然低压采样不涉及高压,但小信号与功率电路的隔离距离可以类比参考,2mm原则在这里也适用。</think>低压电流采样(Low-Side Current Sensing)PCB设计对测量精度系统稳定性至关重要。以下是关键注意事项最佳实践: ### 一、核心设计原则 1. **采样电阻($R_{shunt}$)布局** * **位置紧靠GND点**:将采样电阻尽可能靠近负载接地端或功率地(PGND)连接点,**缩短高电流路径**,避免引入额外阻抗[^2][^3]。 * **开尔文连接(Kelvin Connection)**:使用独立的四线制走线连接采样电阻电压检测端,与功率电流路径分离,消除走线电阻影响: $$V_{sense} = I_{load} \times R_{shunt}$$ * **散热设计**:根据功率$P = I^2 \times R_{shunt}$计算电阻温升,使用足够铜箔面积散热,避免阻值漂移。 2. **信号走线优化** * **差分对走线**:采样信号线($V_{SENSE+}$、$V_{SENSE-}$)需严格等长、等宽、平行紧耦合,包地处理或置于内层,**减小环路面积**[^2][^7]。 * **远离噪声源**:避开开关节点、电感、时钟线等高频干扰源,**间距至少3-5倍线宽**[^4]。 * **最短路径**:采样走线直接连接运放输入端,避免过孔(必要时用盲埋孔)。 3. **接地策略** * **独立模拟地(AGND)**:为采样电路设立纯净的模拟地平面,与功率地(PGND)**单点连接**(通常在采样电阻下方)[^3]。 * **避免地平面分割**:在采样区域保持完整地平面,防止地弹噪声。 4. **运放电路设计** * **去耦电容紧贴电源**:运放的$V_{CC}$/GND引脚处置**0.1μF陶瓷电容+1μF陶瓷电容**,距离<2mm[^1][^2]。 * **输入滤波**:在运放输入端增加RC低通滤波(如1kΩ+100pF),抑制高频噪声: $$f_c = \frac{1}{2\pi RC}$$ * **反馈电阻靠近运放**:缩短反馈路径,降低寄生电容影响。 ### 二、噪声抑制关键措施 1. **屏蔽与隔离** * **保护环(Guard Ring)**:在采样走线周围铺设接AGND的铜环,吸收漏电流[^4]。 * **电源层分割**:将模拟电源($V_{CCA}$)与数字电源($V_{CCD}$)隔离,必要时采用磁珠滤波。 2. **层叠设计** ```plaintext 推荐4层板结构: Top Layer: 采样电阻运放、信号线 Mid Layer1: 完整的AGND平面 Mid Layer2: 电源分割层 Bottom Layer: 功率走线及PGND ``` ### 三、验证与调试 1. **测试点预留**:在运放输入/输出端设置测试点,方便探头接地环测量。 2. **空载噪声测试**:上电后测量采样端电压波动,要求$V_{noise} < 1\% V_{FS}$。 3. **温漂验证**:在不同负载电流下监测采样值漂移。 > **实践案例**:某电机驱动板低压采样设计 > 采用5mΩ/1W采样电阻,开尔文走线长度<10mm,差分对间距0.3mm包地处理。实测50A电流时噪声<2mV(等效0.4A误差),温升3℃。 ### 常见陷阱 - **错误**:采样电阻远离GND点 → 地路径压降引入误差 - **错误**:差分走线跨越分割地 → 共模噪声增大 - **错误**:未使用开尔文连接 → 走线电阻导致测量偏差
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