TLE9183芯片诊断项和安全机制清单

secondyoung

已于 2025-08-01 09:05:06 修改

阅读量802

点赞数 11

CC 4.0 BY-SA版权

文章标签：单片机嵌入式硬件汽车英飞凌 mcu

于 2025-06-12 16:14:06 首次发布

一、诊断项清单

Vs电压监控
- 欠压（UV）检测：可编程阈值（4.88V~9.45V，步进16级）
- 过压（OV）检测：可编程阈值（18V~40V，步进8级）
- 故障标志：Err_sd寄存器位3（OV）、位2（UV）
- SPI读取：RES_VS寄存器存储当前Vs电压值
VDHP电压监控
- 欠压（UV）检测：可编程阈值（3.96V~10.06V，步进8级）
- 过压（OV）检测：可编程阈值（18V~56.11V，步进8级）
- 故障标志：Err_e寄存器位1（OV）、位0（UV）
VCC电压监控
- 欠压（UV）检测：可编程阈值（2.5V~3.1V，针对3.3V系统）
- 过压（OV）检测：可编程阈值（3.45V~5.67V，针对3.3V/5V系统）
- 故障标志：Err_e寄存器位5（OV）、位4（UV）

电荷泵CB电压监控
- 欠压（UV）检测：阈值7.01V~10.44V（可编程）
- 过压（OV）检测：固定阈值16V~18V
- 故障标志：Err_sd寄存器位4（OV）、位1（UV）
高侧缓冲电容电压监控
- 欠压（UV）检测：固定阈值6.1V~7.0V
- 过压（OV）检测：固定阈值16V~22V
- 故障标志：Err_i_2寄存器位7~0

芯片结温监控
- 过温（OT）检测：可编程阈值（125°C~160°C，步进8级）
- 关断阈值：固定185°C
- 故障标志：Err_sd寄存器位7（OT关断）、Ser寄存器位7（OT检测）
- 温度读取：TEMP_LS1~TEMP_HS3寄存器（单位：0.1°C）

分流电阻电流测量
- 通过3个电流检测放大器（CSA1/2/3）测量电机相电流
- 增益可编程（15.71倍~83.19倍）
- 过流（SCD）检测：阈值可编程（11.7mV~1.472V，步进7级）
- 故障标志：Err_scd寄存器位7~2
FET漏源电压检测
- 测量外部MOSFET的Vds电压（支持短路过流检测）
- 反向二极管导通电压检测（用于温度估算）

冗余与独立路径
- 安全关断路径（SOFF引脚）与逻辑关断路径（ENA引脚）独立
- 双重配置校验：CRC校验（配置寄存器）和奇偶校验（控制寄存器）
故障响应策略
- 警告（Warning）：仅记录故障，不影响运行
- 错误（Error）：触发ERR引脚下拉，但允许继续运行
- 自动重启（Auto-Restart）：清除错误后自动恢复
- 锁存错误（Latched Error）：需通过ENA引脚复位
安全状态管理
- 跛行回家模式（Limp Home）：在部分故障时维持基本功能
- 安全关断模式（Safe-Off）：完全禁用输出，需SPI配置解除