ddr老化测试_【鼎阳硬件智库原创︱DDR 】 DDR硬件调试篇:DDR硬件设计&调试&测试 之二...

本文介绍了DDR硬件调试中常见的四个问题:时钟抖动、电源问题、EMI辐射和死机。针对这些问题,提出了相应的排查步骤和解决方案,包括检查电源噪声、添加屏蔽罩、调整DDR工作频率和叠层一致性等措施。此外,还提及了一个看似无关但实则影响DDR的WiFi吞吐量案例。

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DDR硬件调试篇

前言:大家自己设计的产品出来后都有遇到一些什么样的DDR问题呢?这些问题是否为致命问题,一定要解吗?如果机器已经生产出来,却发现DDR硬件问题导致系统不稳定,机器是否作废了,有没有软件方法可以弥补?机器死机如何定位是否为DDR问题,怎么排查?

在实践过程中,设计者会遇到各种形形色色,五花八门的问题,个人遇到的只是沧海一粟,如果抛砖引玉之后,有经验的汇聚,那么DDR调试将变得不在困难。

案例一:时钟抖动问题

根据jedec规范,DDR时钟中需要测试周期抖动。在需要测试的时钟抖动中,单独把周期抖动提出来,是因为周期抖动比较容易测试fail。

在遇到周期抖动fail时,首先需要关注电源的noise问题,如果给DDR供电电源的noise过大的话,就会导致CLK的抖动过大。

其次查看DDR走线包地是否完好,参考平面是否OK,当然这些如果是参考方案供应商设计一般不会有此问题。

最后因时钟是主芯片发出,测试主芯片的晶体时钟频偏是否OK,晶体时主芯片内部时钟的基础。还存在一种可能就是DDR可能开了展频,那样时钟的抖动肯定是fail的。

如果排查了上述问题之后,测试结果还是fail,那么时钟抖动一定要测试pass吗?从个人经验看,如果把调试手段做到位之后,依然存在此问题,在保证煲老化等测试可以pass的情况下,可以不用卡住该指标不放。

案例二:电源问题。DDR供电电源如果出现噪声过大,甚至掉电drop时,系统容易出现死机重启问题,这里主要涉及测试方法的问题,将在测试篇再详细介绍。至于电源的调试,涉及DC/DC,电容,电感的选择。目前DC/DC电源方案比较成熟,调试不会太难。

案例三:EMI问题。在EMI测试时,经常会遇到DDR的辐射问题。首先需要定位辐射频点是否来自DDR。如果你得到的信息是DDR3数据速率跑1600,那么一般认为时钟频率为800M。需要注意是,DDR的实际时钟频率有可能存在偏差,不为800M的整数。如图6中的EMI测试结果:

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