半导体热敏电阻温度特性研究实验方法的改进.pdf

"半导体热敏电阻温度特性研究实验方法的改进" 本文主要介绍了半导体热敏电阻温度特性的研究实验方法的改进。热敏电阻是一种利用半导体材料制成的元件，能够感知温度的变化，并将温度变化转换为电阻的变化。这种元件广泛应用于温度测量、控制和检测等领域。 在实验中，采用夫兰克-赫兹实验装置对热敏电阻的阻值-温度进行测量，并使用最小二乘法处理数据。通过统计方法对数据进行校验，并确定热敏电阻特性方程中的常数。 本文还介绍了PTC类热敏电阻的阻值-温度特性实验装置和数据测量方法。实验中使用了夫兰克-赫兹实验装置中的加热炉和电子温度控制仪，对PTC类热敏电阻的阻值-温度进行测量。 在实验中，首先将电子温度控制仪的热电偶与热敏电阻绑在一起，然后将热敏电阻放入夫兰克-赫兹加热炉内。接着，将热敏电阻的引脚连接到数字万用表的电阻档，并关闭夫兰克-赫兹加热炉。然后，使用数字万用表测量热敏电阻的阻值，并记录温度变化。 通过实验数据的分析，可以确定热敏电阻的阻值-温度特性方程，并应用于实际温度测量和控制中。 半导体热敏电阻温度特性研究实验方法的改进对温度测量和控制技术的发展具有重要意义。它可以广泛应用于各个领域，如工业生产过程中的温度控制、医药工业中的温度监测、食品加工中的温度控制等。 此外，本文还对热敏电阻的特性进行了深入的研究，并对热敏电阻的阻值-温度特性进行了详细的分析。这对热敏电阻的应用和发展具有重要的理论意义。 本文的研究结果可以为半导体热敏电阻温度特性研究实验方法的改进提供重要的参考价值，并对温度测量和控制技术的发展产生积极的影响。