Rockchip-Developer-Guide-USB-SQ-Test-CN-V1.5.pdf

本⽂档提供Rockchip平台USB 2.0/3.0信号完整性测试的⽅法。 USB 2.0信号完整性测试，包括：⾼速(High Speed)、全速(Full Speed)和低速(Low Speed)模式，测试项包括: High Speed Signal Quality、 Packet Parameters、 CHIRP Timing、 Suspend/Resume/Reset Timing、Test J/K、 SE0_NAK、Receiver Sensitivity 等。本⽂档只提供常⽤的 High Speed Signal Quality的测试⽅法。 USB 3.0信号完整性测试 ，包 括 Tx compliance test 和 Rx compliance test 。 由 于 Rx compliance test 的测试环 境和测试⽅法⽐较复杂，所以本⽂档没有提供详细的Rx测试⽅法，只提供 Tx的详细测试⽅法和Rx的测试原理说明。 Rockchip SOCs通常内置多个USB控制器，不同控制器之间互相独⽴，请在对应的芯⽚TRM中获取详细信息。因为不 同的USB控制器，使⽤的测试命令和测试⽅法有所不同，所以测试USB信号完整性前，请先明确测试的USB接⼝所对 应的USB控制器。 本⽂档提供的测试⽅法适⽤于Agilent、Tektronix、LeCroy⽰波器和USB测试夹具