述半导体测试的专业术语
1. DUT
需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT（Device Under Test，我们常简称“被测器件”），或者叫UUT（Unit Under Test）。
首先我们来看看关于器件引脚的常识，数字电路期间的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分。
信号脚，包括输入、输出、三态和双向四类，
输入：在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道；输入管脚感应其上的电压并将它转化为内部逻辑识别的“0”和“1”电平。
输出：在芯片内部逻辑和外部环境之间起缓冲作用的信号输出通道；输出管脚提供正确的逻辑“0”或“1”的电压，并提供合
在电子行业中，半导体器件的测试是一项至关重要的环节，确保了产品的质量和可靠性。本文将深入探讨半导体功能测试的基础知识，特别是专业术语以及测试程序的设计。
我们要了解的是DUT（Device Under Test）或UUT（Unit Under Test），即被测器件。在测试过程中，DUT是所有测试活动的核心，它涵盖了从输入信号处理到输出信号生成的所有功能。半导体器件的引脚通常分为三类：信号引脚、电源引脚和地线。信号引脚包括输入、输出、三态和双向四种类型。输入引脚接收外部信号并转化为内部逻辑可识别的“0”和“1”电平；输出引脚则提供稳定的逻辑电平，并具有适当的驱动能力。三态引脚允许关闭输出，呈现高阻态；双向引脚同时具备输入和输出功能，并可切换至高阻态。
电源引脚如VCC（TTL电路的供电）和VDD（CMOS电路的供电）为器件提供工作电压，而VSS和GND则构成电流回路，为整个系统提供参考电位。测试过程中，输出屏蔽（Output Mask）和输出采样（Output Sampling）是两个关键概念，前者控制输出通道的比较功能，后者评估DUT输出信号是否符合预期。
测试向量（Test Pattern）是描述器件逻辑功能的输入输出状态，它定义了一系列的输入数据和期望的输出数据。通过比较实际输出和设计的测试向量，测试系统能判断器件是否通过测试。
测试程序是控制整个测试流程的关键，通常包括直流测试（DC测试）、功能测试和交流测试（AC测试）。DC测试关注静态特性，如电压和电流；功能测试验证器件逻辑功能的正确性；而AC测试则评估器件在时序上的性能。测试程序的结果将器件分为不同的性能等级，即所谓的“Binning”，根据器件的实际性能将其归类。
为了确保测试的准确性，测试程序需要全面考虑硬件控制、结果分析和设备接口，如Handler和Probe的控制。测试结果的数据可以为工程师提供良率分析和质量控制的重要信息。创建有效的测试程序需要综合考虑器件的特性和应用场景，以及测试效率和成本因素。
半导体功能测试是确保电子元件质量和可靠性的基础，涉及到专业的术语、测试程序设计和复杂的测试流程。理解这些基本概念和技术，对于电子工程师来说至关重要，能够帮助他们更有效地进行产品开发和质量保证。
