如何在Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG工具中配置和使用扫描链以进行有效的芯片测试?
时间: 2024-12-05 16:29:43 AIGC 浏览: 116
为了掌握Tessent Scan & ATPG工具中扫描链的配置和使用,首先应当深入理解扫描链的基本原理和在集成电路测试中的作用。扫描链作为一种DFT技术,能够提高电路的可控性和可观测性,从而增强对芯片内部逻辑的测试能力。在使用Tessent Scan & ATPG进行扫描链设计时,需要遵循以下步骤:(步骤、代码、mermaid流程图、扩展内容,此处略)
参考资源链接:[Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册](https://wenku.csdn.net/doc/4hrkeain68?spm=1055.2569.3001.10343)
首先,要根据芯片设计的特性,合理地选择和设计扫描链的结构,包括链的数量、链路的长度和链路的连接方式。其次,使用Tessent Scan工具进行扫描链的插入,这一过程需要考虑芯片的布局布线(Place and Route)和时序要求。然后,利用ATPG工具自动生成测试向量,这一步骤中,需要定义故障模型和测试策略,确保生成的测试向量能够覆盖所有重要的故障模式。
为了更好地理解这一过程,可以参考《Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册》。该手册详细介绍了Tessent Scan和ATPG工具的使用,包含从基础概念到高级应用的全面内容,对于理解扫描链的配置和测试流程至关重要。通过手册的学习,可以系统地掌握如何在软件版本2018.3中操作这些工具,实现有效的芯片测试。
在学习了基础概念和操作流程之后,建议进一步深入学习相关高级主题,如故障模拟、测试覆盖率分析和高级测试策略优化等,以便在实际工作中更加高效地使用Tessent Scan & ATPG工具。这将有助于提升设计团队的测试效率,确保产品的高质量标准。
参考资源链接:[Mentor Graphics Tessent Scan & ATPG 用户手册](https://wenku.csdn.net/doc/4hrkeain68?spm=1055.2569.3001.10343)
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