IEEE Std 1450-1999(R2011): STIL 数字测试向量接口标准

"Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vectors原版，由IEEE Computer Society的Test Technology Standards Committee赞助，是IEEE Std 1450-1999 (R2011)标准，旨在规范数字测试向量在计算机辅助工程（CAE）与自动测试设备（ATE）环境之间的交换。" STIL（Standard Test Interface Language）是一种标准化的接口语言，用于数字测试向量。这个标准是在1999年被批准，2011年再次确认，由IEEE-SA Standards Board发布。STIL的主要目标是解决在数字集成电路（IC）测试过程中的数据传输和管理问题。 STIL的核心功能包括以下几点： 1. **数据传输**：STIL提供了一个框架，使得数字测试向量可以从计算机辅助工程（CAE）环境无缝地转移到自动测试设备（ATE）环境中。这有助于确保设计和测试过程的连贯性。 2. **测试描述**：该语言定义了一套规则来描述测试模式、格式和定时信息，以充分定义如何将数字测试向量应用到待测设备（DUT）上。这些信息对于准确控制测试过程至关重要。 3. **大规模数据支持**：STIL支持从结构化测试生成的大量测试向量数据，这在现代复杂集成电路的测试中尤其重要，因为这些测试可能需要大量的测试向量来覆盖各种可能的故障模式。 关键词如自动测试图案生成器（ATPG）、内置自测（BIST）、计算机辅助工程（CAE）、循环（Cyclize）、待测设备（DUT）、数字测试向量、事件、功能向量、模式、扫描向量、信号、结构向量、定时事件、波形和波形形状，这些都是STIL涉及的关键概念。 STIL的应用涵盖了从自动测试图案生成到设备的功能性和结构测试，以及利用内置自测技术进行的系统级验证。通过标准化这些接口和数据格式，STIL降低了不同工具和平台之间的互操作难度，提高了测试效率，降低了测试成本，并确保了高质量的测试结果。